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產(chǎn)品中心低溫物理設備磁電測量設備Microscopy顯微光學超導磁體系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介
Janis Microscopy顯微光學超導磁體系統(tǒng)被設計用于與ST-500型高穩(wěn)定性顯微光學低溫恒溫器一起使用，實現(xiàn)在7 T磁場及3.5 K~420 K變溫環(huán)境中的顯微光學測量。
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Janis Microscopy顯微光學超導磁體系統(tǒng)被設計用于與ST-500型高穩(wěn)定性顯微光學低溫恒溫器一起使用，實現(xiàn)在7 T磁場及3.5 K~420 K變溫環(huán)境中的顯微光學測量。該系統(tǒng)配備用于樣品掃描和聚焦的X-Y-Z平移臺，可在低溫強磁場下的進行顯微拉曼、熒光、磁光克爾等多種光譜測試。
主要特征
? 7T垂直孔徑超導磁體
? 室溫孔內(nèi)徑42毫米
? 超低振動ST-500顯微鏡低溫恒溫器
? 溫度范圍：3.5~325K（420K可選）
? 高精度XYZ三軸平臺
? 可測試直徑為16mm的樣品
? 低溫強磁場顯微拉曼、熒光、MOKE
標準Microscopy主要參數(shù)
樣品環(huán)境 | 運行溫度 | 磁場大小 | 光學通道 |
真空/超高真空 | 3.5 K ~ 325 K | 0 ~ 7 T | ? |
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